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更新时间:2025-07-23
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访 问 量 :125
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紫外波前分析仪SID4-UV是Phasics针对半导体应用市场需求推出的一款高性价比的紫外波前分析仪,波长范围覆盖190nm~400nm,靶面尺寸为7.8X7.8mm2,提供300X300的采样率,同时能够提供26um的相位空间分辨率;该产品既能够满足深紫外激光器的高分辨率测量要求,也能够满足半导体的光学器件的品质管控测量和半导体晶圆面型的测量。
应用领域:193nm激光光束测量
半导体设备用镜头测量
半导体表面缺陷测量
紫外波前分析仪SID4-UV指标规格 | |
波长范围 | 190nm~400nm |
靶面尺寸 | 7.8X7.8mm2 |
相位空间分辨率 | 26um |
相位谱&光强谱采样率 | 300X300 |
相位分辨率 | <2nm RMS |
精度 | 15nm RMS |
采样频率 | 15fps |
实时相位输出频率 | 2fps(全分辨率) |
通信接口 | Giga Ethernet |
尺寸 | 74 x 71 x 91 mm3 |
重量 | 约600g |
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