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紫外波前分析仪SID4-UV
产品简介:

紫外波前分析仪SID4-UV是Phasics针对半导体应用市场需求推出的一款高性价比的紫外波前分析仪,波长范围覆盖190nm~400nm,靶面尺寸为7.8X7.8mm2,提供300X300的采样率,同时能够提供26um的相位空间分辨率;该产品既能够满足深紫外激光器的高分辨率测量要求,也能够满足半导体的光学器件的品质管控测量和半导体晶圆面型的测量。

产品型号:

更新时间:2025-07-23

厂商性质:生产厂家

访 问 量 :125

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产品介绍

紫外波前分析仪SID4-UV是Phasics针对半导体应用市场需求推出的一款高性价比的紫外波前分析仪,波长范围覆盖190nm~400nm,靶面尺寸为7.8X7.8mm2,提供300X300的采样率,同时能够提供26um的相位空间分辨率;该产品既能够满足深紫外激光器的高分辨率测量要求,也能够满足半导体的光学器件的品质管控测量和半导体晶圆面型的测量。

应用领域:193nm激光光束测量

半导体设备用镜头测量

半导体表面缺陷测量

紫外波前分析仪SID4-UV指标规格

波长范围

190nm~400nm

靶面尺寸

7.8X7.8mm2

相位空间分辨率

26um

相位谱&光强谱采样率

300X300

相位分辨率

<2nm   RMS

精度

15nm RMS

采样频率

15fps

实时相位输出频率

2fps(全分辨率)

通信接口

Giga   Ethernet

尺寸

74 x 71 x 91 mm3

重量

约600g

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